Tristar II Plus比表面与孔径分析仪

TriStar II Plus

比表面积与孔隙度分析仪

Tristar II Plus系列是三站全自动比表面积和孔隙度分析仪。它能够提高常规质量控制分析的速度和效率，同时拥有高精度、高分辨率和强大的数据处理能力，以满足大多数研究需求。Tristar II Plus系列也可提供氪气选件，可测量非常低的比表面积。

TriStar II Plus系列硬件优势和软件特点

· 独特的耐腐蚀不锈钢歧管设计，可用于高精度的气体管理

· 长效杜瓦瓶设计，提供高达40h的连续温度控制

· 可选氪气选配，用于极低的比表面测试

· 直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据

·  用户自定义报告选项允许直接建模

· 强大的Python编程语言，允许用户开发扩展TriStar II Plus系列软件标准报告库

· 创新的仪器监控界面实时显示仪器性能指标和维护信息

· 能够在碳微孔分析中同时应用CO₂和N₂吸附等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径分布

规格参数
分析
比表面积
范围：0-950 mmHg          分辨率：0.05 mmHg 以内          
**度：全量程的 0.1% 以内          线性度：<±0.1% 范围
总表面积氮气吸附：0.1 m²；氪气吸附：0.01 m²
孔体积：4×10-6cm³/g 
杜瓦瓶可持续时间可达 40 小时
吸附气体
氮气分析
氮气、氩气、二氧化碳或其他非腐蚀性气体；
丁烷、甲烷或其他轻烃；氧气只能与适当的真空泵一起使用
氪气吸附 ：与氮气吸附相同，但可较低压力下进行氪气吸附分析比表面积
歧管温度
**度 ±0.25℃
分辨率0.1℃以内
 

TriStar II Plus系列硬件优势和软件特点

· 独特的耐腐蚀不锈钢歧管设计，可用于高精度的气体管理

· 长效杜瓦瓶设计，提供高达40h的连续温度控制

· 可选氪气选配，用于极低的比表面测试

· 直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据

·  用户自定义报告选项允许直接建模

· 强大的Python编程语言，允许用户开发扩展TriStar II Plus系列软件标准报告库

· 创新的仪器监控界面实时显示仪器性能指标和维护信息

· 能够在碳微孔分析中同时应用CO₂和N₂吸附等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径分布

数据处理优势

· MicroActive交互式软件，可直接处理吸附数据，用户可通过简单的移动计算条，可得到新的结构信息。一键式访问重要的参数，让用户专注于结果，而不是参数

· 交互式数据处理模式，最大限度地减少使用对话框和达到指定计算参数的路径。用户能准确和有效地确定材料的比表面积和孔隙度

· 可与压汞数据进行叠加（最多25个）

· 可通过图形界面在BET，t-Plot，Langmuir，DFT等模型中选择数据范围

· 报告编辑选项，允许用户自定义多达五份报告，可在屏幕上预览。每份报表都有总结、表格和图形信息